偏光顯微鏡是用于觀察高聚物結晶結構的一種常用工具。在偏光顯微鏡下觀察高聚物時，可以看到許多特征性的結構細節，如晶體的形態、大小、分布等。對于高聚物結晶的觀察和分析，可以采用以下方法：
1. 偏光角度觀察法：通過改變偏光顯微鏡的傾斜角度，觀察晶體的變化，從而確定晶體的取向和晶粒大小。這種方法可以用于測定結晶度、晶體取向和晶粒大小等參數。
2. 偏光干涉法：通過在晶體表面放置一個透明的薄片，使兩個偏振片之間的晶體表面發生干涉，從而得到干涉圖像。通過分析干涉圖像，可以確定晶體的形態和結構。
3. 偏光顯微鏡與掃描電子顯微鏡聯用：這種方法可以觀察高聚物結晶的微觀結構和形態，同時還可以觀察晶粒的尺寸分布、晶體取向等參數。
需要注意的是，偏光顯微鏡只能觀察透明或半透明的高聚物結晶結構，對于不透明或顏色較深的高聚物，需要采用其他方法進行觀察和分析。同時，偏光顯微鏡的使用需要具備一定的專業知識和技術，需要經過專業培訓才能正確使用。
步驟：
1. 將樣品制備成薄片，可以使用適當的溶劑溶解或熔融樣品，然后將溶液或熔融物過濾以去除任何不溶物。
2. 將制備好的薄片放置在偏光顯微鏡的載物臺上，并確保樣品與兩個偏光片（一個起偏鏡和一個檢偏鏡）之間的角度保持一致。
3. 調整起偏鏡和檢偏鏡的位置，使光線通過樣品時產生最大的偏振光強度。這可以通過旋轉檢偏鏡來實現。
4. 使用目鏡觀察樣品，并記錄下在偏光顯微鏡下觀察到的最大偏振光強度位置。
5. 記錄下觀察到的最大偏振光強度位置后，可以通過測量該位置與兩個偏光片之間的距離來確定樣品的大小。
6. 根據已知的偏振光強度與樣品大小之間的關系，可以計算出樣品的結晶大小。
需要注意的是，偏光顯微鏡測量的結晶大小通常是通過測量晶體的尺寸或晶粒的數量來估計的，而不是直接測量晶體的長度或寬度。因此，需要使用適當的圖像分析軟件來準確地測量晶粒的大小。
以上是一個簡單的偏光顯微鏡測量高聚物結晶大小的例子，實際操作中可能需要根據樣品的特性和要求進行調整。
