偏光顯微鏡是用于觀察高聚物結(jié)晶結(jié)構(gòu)的一種常用工具。在偏光顯微鏡下觀察高聚物時(shí)，可以看到許多特征性的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，如晶體的形態(tài)、大小、分布等。對于高聚物結(jié)晶的觀察和分析，可以采用以下方法：
1. 偏光角度觀察法：通過改變偏光顯微鏡的傾斜角度，觀察晶體的變化，從而確定晶體的取向和晶粒大小。這種方法可以用于測定結(jié)晶度、晶體取向和晶粒大小等參數(shù)。
2. 偏光干涉法：通過在晶體表面放置一個(gè)透明的薄片，使兩個(gè)偏振片之間的晶體表面發(fā)生干涉，從而得到干涉圖像。通過分析干涉圖像，可以確定晶體的形態(tài)和結(jié)構(gòu)。
3. 偏光顯微鏡與掃描電子顯微鏡聯(lián)用：這種方法可以觀察高聚物結(jié)晶的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài)，同時(shí)還可以觀察晶粒的尺寸分布、晶體取向等參數(shù)。
需要注意的是，偏光顯微鏡只能觀察透明或半透明的高聚物結(jié)晶結(jié)構(gòu)，對于不透明或顏色較深的高聚物，需要采用其他方法進(jìn)行觀察和分析。同時(shí)，偏光顯微鏡的使用需要具備一定的專業(yè)知識(shí)和技術(shù)，需要經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn)才能正確使用。
步驟：
1. 將樣品制備成薄片，可以使用適當(dāng)?shù)娜軇┤芙饣蛉廴跇悠罚缓髮⑷芤夯蛉廴谖镞^濾以去除任何不溶物。
2. 將制備好的薄片放置在偏光顯微鏡的載物臺(tái)上，并確保樣品與兩個(gè)偏光片（一個(gè)起偏鏡和一個(gè)檢偏鏡）之間的角度保持一致。
3. 調(diào)整起偏鏡和檢偏鏡的位置，使光線通過樣品時(shí)產(chǎn)生最大的偏振光強(qiáng)度。這可以通過旋轉(zhuǎn)檢偏鏡來實(shí)現(xiàn)。
4. 使用目鏡觀察樣品，并記錄下在偏光顯微鏡下觀察到的最大偏振光強(qiáng)度位置。
5. 記錄下觀察到的最大偏振光強(qiáng)度位置后，可以通過測量該位置與兩個(gè)偏光片之間的距離來確定樣品的大小。
6. 根據(jù)已知的偏振光強(qiáng)度與樣品大小之間的關(guān)系，可以計(jì)算出樣品的結(jié)晶大小。
需要注意的是，偏光顯微鏡測量的結(jié)晶大小通常是通過測量晶體的尺寸或晶粒的數(shù)量來估計(jì)的，而不是直接測量晶體的長度或?qū)挾取Ｒ虼耍枰褂眠m當(dāng)?shù)膱D像分析軟件來準(zhǔn)確地測量晶粒的大小。
以上是一個(gè)簡單的偏光顯微鏡測量高聚物結(jié)晶大小的例子，實(shí)際操作中可能需要根據(jù)樣品的特性和要求進(jìn)行調(diào)整。