偏光顯微鏡檢測原理主要包括以下幾個方面：
1. 偏光：光波沿著一個固定的光學軸振動，當該光線的波長與物質晶體結構中的某個特定方向一致時，光線將強烈地穿過物體，并保持原來的方向性。
2. 偏光鏡片：在普通消偏光太陽鏡片的光軸上，有一個小的偏光片，其作用是將光軸分成振動方向相同和振動方向垂直的兩束光。當兩束光入射到物質表面且該物質的某些晶體結構與偏振軸重合時，只有振動方向與偏振軸一致的光線才能通過并被物質吸收或反射。
3. 檢測物體表面結構或組成的光學性質：偏光顯微鏡通常用于檢測物體表面結構或組成的光學性質，例如晶體結構、纖維取向、液晶取向等。通過將樣品放置在偏光顯微鏡的載物臺上，可以觀察到樣品在不同方向上的光學性質，從而確定其晶體結構或纖維取向等。
總的來說，偏光顯微鏡通過偏光原理，可以觀察和檢測物體在微觀層面的光學性質，從而揭示其內部結構和組成。
通過偏光顯微鏡，我們可以觀察到這種雙折射現象，并確定樣品中兩種不同晶體的相對位置和折射率。這有助于我們了解樣品的結構和光學性質。
