偏光顯微鏡下的消光位現象主要有以下幾種：
1. 均質體礦物在正交偏光下，無光性反應，即消光。
2. 片狀礦物，當其定向排列時，在正交偏光下見消光。
3. 針狀或纖維狀礦物沿長軸方向平行偏光間界面時，呈現消光。
4. 板狀或塊狀礦物層理或紋理與偏光方向平行時，呈現消光。
5. 均質體在正交偏光下，轉動載物臺，發生由亮變暗，由暗變亮的變化，即消光變化。
6. 雙晶或雙礦物的交叉光性。
7. 集合體形態、顆粒大小、顆粒間孔隙度大小影響光的透入。
8. 吸附現象和包裹體在薄片中呈現消光。
此外，如果存在影響透光的內含物、表面不平整、雙折射及光軸不對中和晶體形狀不規則等因素，也可能影響偏光顯微鏡下的消光位現象。
以上信息僅供參考，如果需要了解更多信息，建議咨詢專業人士。
在偏光顯微鏡下，方解石通常呈現出明顯的消光位現象。這是因為方解石晶體中的晶面或解理面具有特定的光學性質，使得偏振光在通過這些面時發生反射和折射，導致消光位現象的產生。
當偏光顯微鏡觀察方解石時，可以看到晶體表面呈現出明暗交替的條紋。這是因為偏振光在垂直于某些晶面的方向上被反射和折射，而平行于這些晶面的方向上則沒有明顯的反射和折射。這種現象被稱為消光位現象，它可以幫助識別方解石的晶面和結構特征。
需要注意的是，消光位現象并不是所有物質都具有的現象，它通常只出現在具有特定光學性質的晶體或礦物中。因此，通過觀察偏光顯微鏡下的消光位現象，可以有助于識別和鑒定礦物晶體或礦物樣品。
