偏光顯微鏡主要用于觀察均質體的礦物和晶體，也可以觀察非均質體礦物的干涉色，測定薄片在正交偏光下旋轉的角度，以確定其厚度和雙折射程度等。此外，偏光顯微鏡在以下方面也有應用：
1. 觀察各種礦物單晶體、雙晶、非均質體礦物薄片在偏光下的干涉色等；
2. 觀察某些透明礦物在正交偏光下顯示黑色條紋或暗斑的消光現象；
3. 觀察某些礦物晶體因雙折射引起的異常干涉色；
4. 觀察非晶質體（如火山玻璃、生物玻璃等）的旋光特性；
5. 測定薄片在正交偏光下旋轉的度數以確定其厚度和雙折射程度；
6. 用于鑒定某些非晶質體，如黑曜石等；
7. 觀察某些透明礦石的吸收性顏色等。
此外，偏光顯微鏡還可以用于研究云母、石鹽、石膏等礦物的干涉色和干涉圖，以及測定非均質體薄片的厚度和雙折射率等。同時，它還可以用于鑒定某些非晶質體，如黑曜石等。這些應用領域都依賴于偏光顯微鏡的高精度光學性能和精確的顯微鏡操作。
具體來說，偏光顯微鏡可以用來觀察單晶礦物，通過偏光鏡來研究礦物的光學性質，如各向異性、雙折射等。這對于識別礦物種類、研究礦物的形態和結構以及了解礦物的物理性質非常重要。
通過偏光顯微鏡，研究人員可以觀察到礦物的晶體結構，包括其對稱性、解理、雙晶等現象，這對于礦物學家的研究非常有幫助。此外，偏光顯微鏡還可以用于觀察其他具有特殊光學性質的物質，如液晶、晶體薄膜、光學薄膜、干涉膜等。
