偏光顯微鏡主要用于觀察均質(zhì)體的礦物和晶體，也可以觀察非均質(zhì)體礦物的干涉色，測(cè)定薄片在正交偏光下旋轉(zhuǎn)的角度，以確定其厚度和雙折射程度等。此外，偏光顯微鏡在以下方面也有應(yīng)用：
1. 觀察各種礦物單晶體、雙晶、非均質(zhì)體礦物薄片在偏光下的干涉色等；
2. 觀察某些透明礦物在正交偏光下顯示黑色條紋或暗斑的消光現(xiàn)象；
3. 觀察某些礦物晶體因雙折射引起的異常干涉色；
4. 觀察非晶質(zhì)體（如火山玻璃、生物玻璃等）的旋光特性；
5. 測(cè)定薄片在正交偏光下旋轉(zhuǎn)的度數(shù)以確定其厚度和雙折射程度；
6. 用于鑒定某些非晶質(zhì)體，如黑曜石等；
7. 觀察某些透明礦石的吸收性顏色等。
此外，偏光顯微鏡還可以用于研究云母、石鹽、石膏等礦物的干涉色和干涉圖，以及測(cè)定非均質(zhì)體薄片的厚度和雙折射率等。同時(shí)，它還可以用于鑒定某些非晶質(zhì)體，如黑曜石等。這些應(yīng)用領(lǐng)域都依賴于偏光顯微鏡的高精度光學(xué)性能和精確的顯微鏡操作。
具體來說，偏光顯微鏡可以用來觀察單晶礦物，通過偏光鏡來研究礦物的光學(xué)性質(zhì)，如各向異性、雙折射等。這對(duì)于識(shí)別礦物種類、研究礦物的形態(tài)和結(jié)構(gòu)以及了解礦物的物理性質(zhì)非常重要。
通過偏光顯微鏡，研究人員可以觀察到礦物的晶體結(jié)構(gòu)，包括其對(duì)稱性、解理、雙晶等現(xiàn)象，這對(duì)于礦物學(xué)家的研究非常有幫助。此外，偏光顯微鏡還可以用于觀察其他具有特殊光學(xué)性質(zhì)的物質(zhì)，如液晶、晶體薄膜、光學(xué)薄膜、干涉膜等。