偏光顯微鏡英文縮寫有：Polarizing Microscope 或 PM。
偏光顯微鏡的英文縮寫是POM。偏光顯微鏡主要用于觀察小于光源波長的物體，如礦物晶體等。偏光顯微鏡的原理是光線通過偏振片后變成線偏振光，再通過檢偏振片后，只有特定方向的光線才能通過，從而實現對物體觀察和篩選。
例題：
樣品：方解石
偏光顯微鏡下的觀察結果：
1. 旋轉檢偏片，當光強最大時，記錄光軸方向。
2. 在樣品臺上移動樣品，觀察不同位置的光軸變化。
3. 記錄樣品上各部位的光軸方向。
通過上述觀察結果可以分析出方解石的晶體結構特征，進而了解偏光顯微鏡的原理和應用。
