所謂的漏電流﹐是因?yàn)殡娙莸慕^緣介質(zhì)中不完全的絕緣﹐而是有一定的阻抗﹐故存在損耗現(xiàn)象﹐而在一部分損耗以電流的方式表現(xiàn)出來就是漏電流。
漏電壓過大的一個(gè)誘因可能由于芯片的有問題引起的.通常的芯片用時(shí)間久了,其漏電壓都會(huì)減小,常見的如手機(jī)待機(jī)時(shí)間不長,就是因?yàn)樾酒穆╇妷哼^大造成的.
據(jù)悉,對(duì)于漏電壓,也可以采取一些保護(hù)設(shè)計(jì)的方法,進(jìn)行改善,在下不是從事設(shè)計(jì)工作,所以不是非常清楚.
big.itcanbeabook.
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STIthede
短路主要有以下幾個(gè)質(zhì)數(shù)造成
1.設(shè)計(jì):設(shè)計(jì)錯(cuò)誤,或設(shè)計(jì)規(guī)則大于生產(chǎn)線規(guī)則
2.工藝:表面短路,主要是表面反型造成(缺陷只能造成局部短路)
3.測(cè)試通常不會(huì)導(dǎo)致短路,除非外圍弄錯(cuò)了
通常來說設(shè)計(jì)規(guī)則和生產(chǎn)線規(guī)則嚴(yán)重不符的低級(jí)錯(cuò)誤比較稀少,除非你對(duì)這條生產(chǎn)線很熟悉,可以做極限試驗(yàn),生產(chǎn)線灰塵表面反型的可能性較大.
問得太寬泛了……
半導(dǎo)體的東西雖然涵蓋了太多太多的東西。。。
要說這個(gè)短路。。
是輸入漏電壓還是輸出漏電壓啊！但主要是芯片內(nèi)部直接與管腳相連的一級(jí)管子沒有完全關(guān)掉引起的
作IDDQ的測(cè)試.
很想了解,ic線路內(nèi)open是否也會(huì)導(dǎo)致短路
假如產(chǎn)品沒有問題的話,一般是量測(cè)的問題,時(shí)間..測(cè)試次數(shù)..值的估算.....誘因
測(cè)試時(shí)溫度過大也會(huì)造成漏電壓
我這幾天正在做這個(gè)問題的一個(gè)反饋，我做了幀率曲線的剖析，我是做中測(cè)的，覺得是封裝上出了問題線路電流過大的原因，可能是沒有弄金絲封裝線路電流過大的原因，緣由很多，我還不曉得究竟出在哪，打算去生產(chǎn)線山瞧瞧
個(gè)人覺得,實(shí)際生產(chǎn)中,尤其是穩(wěn)定的線上生產(chǎn)形成短路的最大誘因就是污染,因?yàn)樯a(chǎn)操作的不規(guī)范導(dǎo)致.
同意ls生產(chǎn)線潔凈度是控制金屬離子褻瀆最大關(guān)鍵主要誘因就是絕緣性能減少了，該絕緣地方或時(shí)侯絕緣性能差了