今天分享的數據來自美國化學會IC上公布的一份數據，公布的數據沒有問題。 孿生數據在晶體中無處不在。 有時，待結晶的材料只能以孿晶形式結晶。 由于最小能量原理的影響，這是不可避免的。 有些晶體通過改變結晶條件可以形成質量更好的單晶。 這取決于具體情況。 因此偏光顯微鏡法觀察聚合物結晶形態，遇到孿晶時偏光顯微鏡法觀察聚合物結晶形態，首先要弄清楚它是什么類型的孿晶，是否是缺面孿晶、非面缺孿晶、假涂層孿晶、部分缺面孿晶等。哪些可以通過重新培養單晶獲得哪些不能？ 不要盲目追求單晶。 有很多關于雙胞胎的已發表數據。 該數據的CCDC編號為，有興趣的可以下載了解更多。
圖1 數據來源
當提取衍射數據并重新分析時，可以在電子密度圖上清楚地看到圖2中紅框所示的電子殘留峰。 按照一般的處理流程進行無序拆分，就能看到細化的指標。 在執行此操作之前，最好檢查一下細化的警告，以避免浪費精力。 檢查后提示警示規定中有雙胞胎。 我找到了雙胞胎規則并將它們添加到ins文件中。 煉化了電子殘峰之后，就沒有了。
圖2 未添加孿生規則
因此，當亂象出現時，先不要急于將亂象劈開。 這是非缺失的孿生數據。 孿生定律與缺失孿生定律接近，不能排除計算誤差的存在。 添加孿生定律后，細化指標進一步提高，如圖3所示。有興趣的可以下載學習實踐。
圖3 添加孿生定律
