據(jù)是德科技大中國區(qū)電源和通用產(chǎn)品市場總監(jiān)饒騫介紹，電路設(shè)計(jì)中會(huì)用到不同電阻的阻值，小到mΩ、μΩ的大電壓分流器，大到GΩ、TΩ的絕緣材料。為了提高設(shè)計(jì)的可靠性電阻的測量，須要對(duì)這種元件做高精度驗(yàn)證和檢測，然而這極具挑戰(zhàn)性。
饒騫剖析了傳統(tǒng)的極限內(nèi)阻測試中存在的問題，提出了針對(duì)不同電阻的極限內(nèi)阻的精確檢測手段和技巧，包括三個(gè)部份：小阻值的高精度檢測、超高內(nèi)阻檢測、材料漏電壓或絕緣阻抗檢測。
小阻值的高精度檢測
他介紹說，眾所周知的內(nèi)阻檢測方式是采用數(shù)字萬用表（按照歐姆定理），2線法比較常用，而且要提高阻值的檢測精度，就必須轉(zhuǎn)為4線法檢測，因而抵消測試引線內(nèi)阻。
然而事情沒有那么簡單。以10mΩ小阻值、4線法，以及用（6?位）高精度萬用表檢測為例，讀數(shù)為16.5mΩ電阻的測量，有65%偏差。問題出在哪？最小100Ω內(nèi)阻檔對(duì)應(yīng)的測試電壓只有1mA，因而所形成壓降只有50mΩ×1mA=50μV。而最小DC電流檢測檔為100mV，二者相差2000倍，阻值偏差太大，因而不能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測試。
怎么改進(jìn)呢？他介紹說可以采用納伏微歐表（最小1Ω內(nèi)阻檔對(duì)應(yīng)測試電壓1mA，最小DC電流檔1mV）并通過減小檢測時(shí)間（便于平均掉差模噪音）來改進(jìn)（注：PLC是指工頻時(shí)間）。
假如還嫌檢測精度不夠，則可以采用B2900高精度電壓源來進(jìn)一步改進(jìn)——其精度和6?位萬用表差不多，但驅(qū)動(dòng)電壓可以大1000倍。
據(jù)悉，還可以采用B2900電壓源（只是用低噪音電壓源而不是用其檢測功能）+納伏微歐表來再進(jìn)一步提升檢測精度。
據(jù)悉，電壓會(huì)造成熱偏置電流以及自熱現(xiàn)象而對(duì)檢測不利。要清除這兩種不利影響，則可以使用的正負(fù)電壓激勵(lì)來清除內(nèi)阻兩端的熱電勢(shì)，或使用脈沖電壓來增加自熱。
不同注入電壓給內(nèi)阻檢測值帶來的影響：優(yōu)化注入電壓，獲得最佳測試精度（從圖可知，500mA下的曲線最優(yōu)）。
這么，有人又想曉得小阻值（例如大電壓分流器）在大電壓情況下的真實(shí)情況如何（因而在軟件建模時(shí)進(jìn)行修正）。這時(shí)就可以采用高性能電源系統(tǒng)，最大單機(jī)電流800A，電壓檢測精度達(dá)到0.03%，電流檢測精度0.02%。之后采用數(shù)字萬用表檢測電流，用數(shù)據(jù)采集器+模塊檢測體溫，就可以觀察到其在不同電壓下以及不同水溫下的內(nèi)阻值是多少。
這些檢測方式還可以拿來檢測充電頭的接觸阻抗變化（氧化，最終造成爆燃）。這兒就可以借助BenchVue軟件來實(shí)現(xiàn)全手動(dòng)測試，去觀察小阻值相對(duì)于大電壓以及氣溫的變化，他補(bǔ)充說。這時(shí)侯就可以輕松對(duì)儲(chǔ)能電廠或電動(dòng)車輛等應(yīng)用中所用的大電壓傳感進(jìn)行定標(biāo)。
超高內(nèi)阻檢測
超高內(nèi)阻檢測，例如上GΩ或上TΩ的內(nèi)阻的檢測，其挑戰(zhàn)是檢測小電壓。例如100GΩ內(nèi)阻加上1V電流，其電壓僅為10pA。這樣的電壓太小而很容易遭到干擾而形成較大波動(dòng)，有時(shí)甚至偏離成負(fù)值而使內(nèi)阻檢測值為負(fù)。
業(yè)界測這些絕緣內(nèi)阻常用的電流檔位有100V、200V、500V和1000V。“我們測這些小電壓真的是要武裝到臼齒?！彼赋稣f。
首先，測電壓時(shí)，為了抑制干擾，一般采用同軸電纜線或則雙絞線來接線。但在檢測這些小電壓時(shí)這樣的接線早已遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠——這時(shí)須要用到三同軸電纜線（多了一層Guard層：保安或隔離）。
同軸電纜線的訊號(hào)線與接地線之間雖然填充了絕緣材料，其電阻也不可能做到無限高。如果其為1GΩ的絕緣，倘若加100V電流，則其漏電壓為100nA。但我們要測的是pA級(jí)電壓，這樣的漏電壓都會(huì)把真實(shí)訊號(hào)吞沒，他解釋說。
三同軸電纜線的Guard層可提供跟中間訊號(hào)線等電位的電動(dòng)勢(shì)，這樣就可以避免內(nèi)部訊號(hào)線上的電壓通過絕緣材料流到地。也等于給它人為制造了一個(gè)特別大的阻抗。這樣就可以把漏電壓做得十分的小。
之后，還要解決測試環(huán)境和測試夾具的屏蔽問題。諸如為待測內(nèi)阻加屏蔽，以及為測試夾具加屏蔽箱。這樣能夠有效避免電流線對(duì)電壓線所形成的干擾，以及寄生電容的影響。
材料漏電壓或絕緣阻抗檢測
解決大內(nèi)阻待測元件的問題后，還有一類極限內(nèi)阻檢測是測絕緣材料。絕緣材料包含兩種量程：表面內(nèi)阻和體內(nèi)阻。
這兩種內(nèi)阻的測試也是采用高阻計(jì)進(jìn)行，而且須要為其訂制測試治具（大環(huán)套小環(huán)的結(jié)構(gòu)）。在上下電極兩端加電流測得電壓，再乘以距離，即得體內(nèi)阻率。測表面內(nèi)阻則是將電流加在下電極的外環(huán)和二環(huán)之間，這樣就可以測得表面電壓，從而得到表面內(nèi)阻。
借助類似檢測方式還可以對(duì)鉭電容的漏電壓進(jìn)行檢測——鉭電容的DC絕緣內(nèi)阻須要檢測，這兒有漏電壓存在。這時(shí)須要注意電容有充電和材料極化過程，在穩(wěn)定后即可讀數(shù)。