- 卡尺觀察光的干涉
卡尺觀察光的干涉時(shí)，可以通過測量干涉條紋間距來得到光波的波長。具體步驟如下：
1. 將單色光源發(fā)出的光經(jīng)過狹縫后形成寬度為a的光束。
2. 將光束照射到物體表面，由于物體表面的反射面粗糙不平，會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象，形成一系列與間距為L的暗條紋對(duì)應(yīng)的圓形條紋。
3. 在圓形條紋的后面放一個(gè)卡尺，觀察卡尺上形成的干涉條紋。
4. 通過測量干涉條紋的間距，可以得到光波的波長。
需要注意的是，卡尺觀察光的干涉需要使用單色光源和精確的測量工具，以確保測量的準(zhǔn)確性和可靠性。此外，還需要注意觀察角度和環(huán)境光線的影響，以確保觀察到的干涉條紋清晰可見。
相關(guān)例題：
實(shí)驗(yàn)器材：卡尺、光源（如激光器）、單色濾光片、光屏、尺量具（如卷尺或螺旋測微器）。
實(shí)驗(yàn)步驟：
1. 將光源發(fā)出的單色激光照射到卡尺的狹縫上。
2. 調(diào)整光源和卡尺的位置，使得卡尺的狹縫與激光器發(fā)出的激光平行。
3. 在光屏上可以看到干涉條紋。
實(shí)驗(yàn)觀察和解釋：
觀察到的是一組清晰的明暗相間的干涉條紋，這些條紋是由來自卡尺狹縫的光線與激光的相互干涉形成的。通過改變光源和卡尺之間的距離，可以觀察到干涉條紋的變化。
例題解釋：
假設(shè)光源發(fā)出的激光波長為λ，卡尺的狹縫寬度為a。當(dāng)激光照射到卡尺的狹縫上時(shí)，一部分光線通過狹縫并直接射向光屏，另一部分光線則被卡尺反射回來并射向光屏。這兩部分光線在光屏上疊加，由于它們的光程差等于半個(gè)波長（半波長的偶數(shù)倍），因此它們之間產(chǎn)生相長干涉，形成明亮的干涉條紋。
通過測量干涉條紋的間距，可以驗(yàn)證光的干涉原理。同時(shí)，通過改變光源和卡尺之間的距離，觀察干涉條紋的變化，也可以幫助我們理解光的干涉現(xiàn)象。
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