1.0引言
組件廠家在進(jìn)行產(chǎn)品功率測(cè)試時(shí)，會(huì)有曲線異常的情況出現(xiàn)。在剖析組件異常情況時(shí)，須要考慮組件串、并聯(lián)內(nèi)阻對(duì)組件功率的影響。因而有必要研究電瓶片串、并聯(lián)內(nèi)阻的組成及其影響。
2.0串、并聯(lián)內(nèi)阻的組成
太陽(yáng)能電板有寄生串聯(lián)和并聯(lián)內(nèi)阻伴隨。兩種寄生內(nèi)阻都減少填充因子。
2.1串聯(lián)內(nèi)阻
串聯(lián)內(nèi)阻Rs主要是半導(dǎo)體材料的碳化物內(nèi)阻，金屬體內(nèi)阻及聯(lián)接內(nèi)阻、金屬和半導(dǎo)體聯(lián)接形成的內(nèi)阻，即串聯(lián)內(nèi)阻=晶圓碳化物內(nèi)阻+縱向內(nèi)阻+電極內(nèi)阻+接觸內(nèi)阻。
圖1串聯(lián)內(nèi)阻組成示意圖
碳化物內(nèi)阻由晶圓的品質(zhì)決定。擴(kuò)散小方塊內(nèi)阻可以調(diào)節(jié)，但又伴隨著結(jié)深的變化。柵線內(nèi)阻主要靠絲網(wǎng)彩印參數(shù)決定，重要的是柵線的清晰度和高寬比（越大越好）。其實(shí)，若單純的降低串聯(lián)內(nèi)阻，柵線可以很寬，但高度較低，這樣會(huì)減小遮光面積。接觸內(nèi)阻主要看電極彩印療效、燒結(jié)的效果等。
2.2并聯(lián)內(nèi)阻
并聯(lián)內(nèi)阻Rsh主要因?yàn)閜-n結(jié)不理想或在結(jié)附近有雜質(zhì)，這種都能引起結(jié)漏電，尤其是在電瓶邊沿處。并聯(lián)內(nèi)阻反映的是電瓶的短路水平。漏電壓理論上可以歸結(jié)到并聯(lián)內(nèi)阻上。并聯(lián)內(nèi)阻影響太陽(yáng)電瓶開(kāi)路電流，Rsh降低會(huì)使開(kāi)路電流增加，但對(duì)漏電電壓基本沒(méi)有影響。
并聯(lián)內(nèi)阻過(guò)小可能由一下誘因?qū)е拢?span style="display:none">bjj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))
邊沿短路（蝕刻未完全、印刷離析）。
碳化物內(nèi)雜質(zhì)和微觀缺陷。
PN結(jié)局部漏電（擴(kuò)活血過(guò)淺、制絨角錐體顆粒過(guò)大）。
3.0串、并聯(lián)阻值的影響
3.1串聯(lián)內(nèi)阻對(duì)填充因子的影響
由于填充因子決定著電瓶輸出功率，因而最大輸出功率受串聯(lián)內(nèi)阻影響電阻并聯(lián)功率怎么計(jì)算，可以近似表示為：
假如太陽(yáng)能電板電阻定義為：
串聯(lián)內(nèi)阻Rs影響漏電電壓電阻并聯(lián)功率怎么計(jì)算，Rs增會(huì)議使漏電電壓增加，而對(duì)開(kāi)路電流沒(méi)有影響。串聯(lián)內(nèi)阻的影響如圖2。
圖2：串聯(lián)內(nèi)阻對(duì)填充因子的影響
3.2并聯(lián)內(nèi)阻對(duì)填充因子的影響類(lèi)似的并聯(lián)內(nèi)阻，可以定義為：
并聯(lián)內(nèi)阻對(duì)填充因子的影響如圖3.12所示。
圖3太陽(yáng)能電板中并聯(lián)內(nèi)阻對(duì)填充因子的影響
在串聯(lián)和并聯(lián)內(nèi)阻都存在情況下，太陽(yáng)能電板IV曲線可以用下式表示：（作者陌陌公眾帳號(hào)：光伏經(jīng)驗(yàn)網(wǎng)）
