電容的檢測
Q1
問：怎樣正確檢測電容容量和耗散因子？
答：正確檢測的關鍵在于水表設置。詳見表1。
電流設置對于高電容容量的電容而言至關重要。對于個別電容表，假若施加到測試器件的電流不夠，電容容量讀數都會很低。
頻度設置也很重要。因為電容容量隨頻度的變化而變化，因而行業標準將測試頻度指定為1MHz、1kHz或120Hz（請參見表1）。
分辨EIAII類電容的老化現象同樣重要。對于II類材料，電容容量會隨時間而減少。為此，一項廣為接受的行業慣例規定，在最后一次加熱（TOLH）后1000小時內，電容容量應處于容差范圍內。
Q2
問：為何須要依照電容容量范圍在不同的測試頻度/電流下檢測電容容量？
答：儀表的頻度設置取決于器件的寄生特點。為了更確切地讀取器件數值，檢測頻度應偏離器件的自諧振頻度（SRF）。行業用戶會依照電容值在不同的頻度點設置標準（請參見表1）。超過10uF的電容值被視為屬于鉭電容的范圍。為此，隨著陶瓷電容容量范圍開始擴大并覆蓋了鉭電容的范圍，業界將用于鉭電容檢測的頻度標準應用于陶瓷電容中。
施加的電流還取決于電容的電容容量。一般，針對10uF及以下電容值施加的電流為1.0±0.2Vrms。但當電容值超過10uF時，施加的電流為0.5±0.1Vrms。高電容容量電容的阻抗十分低，因而要提供充足的電壓以進行檢測，電源須要的電壓還要小于1.0±0.2Vrms時的電壓。通過減少施加的電流，電源才能提供充足的電壓以確切檢測高電容容量的電容。
Q3
問：電容容量的Cp和Cs有哪些區別？
答：阻抗剖析儀可以采用并聯（稱為Cp）或串聯（稱為Cs）的形式來檢測電容容量。電路模型將取決于電容的電容值（參見圖1）。
當C較小且阻抗較高時，C和Rp之間的并聯阻抗將顯著低于Rs。為此，用于檢測電容容量的儀表設置應為Cp。當C較大而阻抗較小時，C和Rp的并聯阻抗就不是很顯著了。為此，應將Cs用作水表設置來檢測電容容量。選擇阻抗設置的一個經驗法則是，當電容阻抗值小于10kΩ時，使用Cp；當電容阻抗值大于10Ω時，使用Cs。
Q4
問：怎么確切檢測品質因子（Q）？
答：品質因子用于評判電容在理論上起到純電容作用的程度。它是耗散因子（DF）的倒數。一般，當電容容量≦330pF、DF>330pF時就會報告Q值。
利用使用（與特定電容容量范圍相對應的）精確電感線圈的Q表可以獲得確切的Q值。一般須要多個線圈能夠在0.5～330pF的范圍內進行充分檢測。對于小于330pF的電容，可以取耗損因子的倒數來估算品質因子（請參見公式1）。
Q5
問：哪些是電容允受的諧波電壓？
答：為響應電容中出現的電流波動，充電電壓或放電電壓會充入或離開電容。此時步入或離開電容的電壓稱為諧波電壓。該電壓一般以有效值表示，由于從原理上說它并不是直流電。電容會隨著諧波電壓形成熱量電容的電阻會變化嗎，因而必須設置一個上限電容的電阻會變化嗎，而該上限的值就是所謂允受的諧波電壓。
