雙橋檢測(cè)低值內(nèi)阻
姓名 龍大洪 10班教材書(shū)(1) 班級(jí)學(xué)號(hào)
摘要：電阻值的檢測(cè)方法有多種，各種電阻器的阻值都有其最適合的檢測(cè)方法。 本文結(jié)合實(shí)際檢測(cè)數(shù)據(jù)，針對(duì)雙橋低值內(nèi)阻的檢測(cè)進(jìn)行了一系列分析。
前言：內(nèi)阻是電路的基本元件之一，內(nèi)阻的檢測(cè)是基本的熱檢測(cè)。 內(nèi)阻的分類方法有很多種，一般定義為碳膜內(nèi)阻、金屬內(nèi)阻、線繞內(nèi)阻等，按類型有：固定內(nèi)阻、可變內(nèi)阻、特殊內(nèi)阻（光敏內(nèi)阻） 、壓敏內(nèi)阻等）內(nèi)阻、熱敏內(nèi)阻）等； 根據(jù)伏安特性曲線（電流～電流曲線）的直線程度高中物理電阻的測(cè)量，可分為線性內(nèi)阻和非線性內(nèi)阻（典型的非線性內(nèi)阻包括白熾燈泡中的燈絲、熱敏內(nèi)阻、光敏內(nèi)阻、半導(dǎo)體內(nèi)阻）三極管、二極管等）； 按電阻大小分為低內(nèi)阻、中阻和高內(nèi)阻。
不同大小的內(nèi)阻電阻檢測(cè)方法也不同。 介質(zhì)電阻（10-106Ω）的檢測(cè)方法有很多種，其中大部分是您所熟知的。 隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，經(jīng)常需要檢測(cè)107-1018Ω之間的高內(nèi)阻和超高電阻（如一些高阻半導(dǎo)體、新型絕緣材料等），還需要檢測(cè)高于1Ω甚至10-7Ω的低內(nèi)阻 內(nèi)阻和超低內(nèi)阻（如金屬材料內(nèi)阻、接觸內(nèi)阻、低溫超導(dǎo)等），對(duì)于這種特殊電阻值的檢測(cè)，需要選擇合適的電路，消除電路中導(dǎo)線的內(nèi)阻、漏阻、溫度等的影響，將偏差降到最低，保證檢測(cè)精度。 電橋法是一種采用比較法的檢測(cè)方法。 它在平衡條件下將待測(cè)內(nèi)阻與標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)阻進(jìn)行比較，以確定待測(cè)內(nèi)阻的大小。 電橋法具有靈敏度高、測(cè)量準(zhǔn)確、技巧巧妙、使用方便、對(duì)電源穩(wěn)定性要求不高的特點(diǎn)。 已廣泛應(yīng)用于鉗工技術(shù)和非電測(cè)量領(lǐng)域。
【目的】
1.了解雙橋檢測(cè)低值內(nèi)阻的原理
2.熟悉利用雙橋檢測(cè)低值內(nèi)阻的方法。
【實(shí)驗(yàn)室儀器】
直流穩(wěn)壓電源、電流表、待測(cè)低值內(nèi)阻（銅線）、直流再輻射光斑檢流計(jì)內(nèi)阻盒5個(gè)、開(kāi)關(guān)及電線
【實(shí)驗(yàn)原理】
一、低值內(nèi)阻檢測(cè)必須考慮的問(wèn)題
檢測(cè)1Ω～10-6Ω低值內(nèi)阻時(shí)高中物理電阻的測(cè)量，由于實(shí)驗(yàn)接線內(nèi)阻和接觸內(nèi)阻（數(shù)量級(jí)約為10-2Ω—10-5Ω）可能與被測(cè)內(nèi)阻在同一數(shù)量級(jí)。電阻，甚至更大，因此，如果用通常的方法檢測(cè)低電阻值，結(jié)果會(huì)造成較大偏差。為了清除和減少接線內(nèi)阻和接觸
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