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2017年國(guó)家公務(wù)員考試行測(cè):霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的測(cè)量

2023-11-21 15:43:25實(shí)驗(yàn)視頻16

通過霍爾效應(yīng)檢測(cè)磁場(chǎng)在磁場(chǎng)中的載流導(dǎo)體上出現(xiàn)很想電勢(shì)差的現(xiàn)象是24歲的研究生霍爾(EdwinH.Hall)在1879年發(fā)覺的,現(xiàn)今稱之為霍爾效應(yīng)。隨著半導(dǎo)體化學(xué)學(xué)的迅猛發(fā)展,霍爾系數(shù)和濁度率的檢測(cè)早已稱為研究半導(dǎo)體材料的主要方式之一。通過實(shí)驗(yàn)檢測(cè)半導(dǎo)體材料的霍爾系數(shù)和濁度率可以判定材料的導(dǎo)電類型、載流子含量、載流子遷移率等主要參數(shù)。若能測(cè)得霍爾系數(shù)和濁度率隨氣溫變化的關(guān)系物理實(shí)驗(yàn) 霍爾效應(yīng),還可以求出半導(dǎo)體材料的雜質(zhì)電離能和材料的禁帶間距。在霍爾效應(yīng)發(fā)覺約100年后,美國(guó)化學(xué)學(xué)家克利青(Klausvon)等研究半導(dǎo)體在極低氣溫和強(qiáng)磁場(chǎng)中發(fā)覺了量子霍爾效應(yīng),它除了可作為一種新型內(nèi)阻標(biāo)準(zhǔn),還可以改進(jìn)一些基本產(chǎn)值的精確測(cè)定,是當(dāng)代匯聚態(tài)化學(xué)學(xué)和磁學(xué)令人驚愕的進(jìn)展之一,克利青因此發(fā)覺獲得1985年諾貝爾化學(xué)學(xué)獎(jiǎng)。其后法籍日裔數(shù)學(xué)學(xué)家崔琦(D.C.Tsui)和施特默在更強(qiáng)磁場(chǎng)下研究量子霍爾效應(yīng)時(shí)發(fā)覺了分?jǐn)?shù)量子霍爾效應(yīng)。它的發(fā)覺使人們對(duì)宏觀量子現(xiàn)象的認(rèn)識(shí)更深入一步,她們因此發(fā)覺獲得了1998年諾貝爾化學(xué)學(xué)獎(jiǎng)。用霍爾效應(yīng)之輩的各類傳感,以廣泛應(yīng)用于工業(yè)手動(dòng)化技術(shù)、檢測(cè)技術(shù)和信息處理各個(gè)方面。d2I物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

本實(shí)驗(yàn)的目的是通過用霍爾器件檢測(cè)磁場(chǎng),判定霍爾器件自旋類型,估算自旋的含量和遷移速率,以及了解霍爾效應(yīng)測(cè)試中的各類副效應(yīng)及清除方式。實(shí)驗(yàn)原理?通過霍爾效應(yīng)檢測(cè)磁場(chǎng)霍爾效應(yīng)裝置如圖2.3.1-1和圖2.3.1-2所示。將一個(gè)半導(dǎo)體薄片置于垂直于它的磁場(chǎng)中(B的方向沿z軸方向),當(dāng)沿y方向的電極A、A’上施加電壓I時(shí),薄片內(nèi)定向聯(lián)通的自旋(設(shè)平均速度為u)遭到洛倫茲力FB的作用,F(xiàn)B=quB(1)無論自旋是負(fù)電荷還是正電荷,F(xiàn)B的方向均順著x方向,在磁力的作用下,自旋發(fā)生偏斜,形成電荷積累,進(jìn)而在薄片B、B’兩側(cè)形成一個(gè)電位差VBB’,產(chǎn)生一個(gè)電場(chǎng)E。電場(chǎng)使自旋又遭到一個(gè)與FB方向相反的電場(chǎng)力FE,F(xiàn)E=qE=qVBB’/b(2)其中b為薄片長(zhǎng)度,F(xiàn)E隨著電荷累積而減小,當(dāng)達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)FE=FB,即quB=qVBB’/b(3)這時(shí)在B、B’兩側(cè)構(gòu)建的電場(chǎng)稱為霍爾電場(chǎng),相應(yīng)的電流稱為霍爾電流,電極B、B’稱為霍爾電極。另一方面,射氮化物含量為n,薄片長(zhǎng)度為d,則電壓硬度I與u的關(guān)系為:(4)由(3)和(4)可得到(5)令,則(6)R稱為霍爾系數(shù),它彰顯了材料的霍爾效應(yīng)大小。d2I物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

按照霍爾效應(yīng)制做的器件稱為霍爾器件。在應(yīng)用中,(6)常以如下方式出現(xiàn):(7)式中稱為霍爾器件靈敏度,I稱為控制電壓。由式(7)可見,若I、KH已知,只要測(cè)出霍爾電流VBB’,即可算出磁場(chǎng)B的大小;而且若知自旋類型(n型半導(dǎo)體多數(shù)自旋為電子,P型半導(dǎo)體多數(shù)自旋為空穴),則由VBB’的正負(fù)可測(cè)出磁場(chǎng)方向,反之,若已知磁場(chǎng)方向,則可判定自旋類型。因?yàn)榛魻栃?yīng)構(gòu)建所需時(shí)間很短(10-12~10-14s),因而霍爾器件使用交流電或則直流電都可。指示交流電時(shí),得到的霍爾電流也是交變的,(7)中的I和VBB’應(yīng)理解為有效值。?霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)中的付效應(yīng)在實(shí)際應(yīng)用中,伴隨霍爾效應(yīng)常常存在其他效應(yīng)。比如實(shí)際中自旋遷移速度u服從統(tǒng)計(jì)分布規(guī)律,速率小的自旋遭到的洛倫茲力大于霍爾電場(chǎng)斥力,向霍爾電場(chǎng)斥力方向偏轉(zhuǎn),速率大的自旋遭到磁場(chǎng)斥力小于霍爾電場(chǎng)斥力,向洛倫茲力方向偏轉(zhuǎn)。這樣致使右側(cè)告訴自旋較多,相當(dāng)于水溫較高,而另左側(cè)低速自旋較多,相當(dāng)于水溫較低。這些縱向溫差就是溫差電動(dòng)勢(shì)VE,這些現(xiàn)象稱為愛延豪森效應(yīng)。這些效應(yīng)構(gòu)建須要一定時(shí)間,倘若采用直流電檢測(cè)時(shí)會(huì)為此而給霍爾電流檢測(cè)帶來偏差,假若采用交流電,則因?yàn)榻涣髯兓熘率箰垩雍郎?yīng)來不及完善,可以減少檢測(cè)偏差。d2I物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

霍爾效應(yīng)及其應(yīng)用物理實(shí)驗(yàn)報(bào)告_霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)報(bào)告大學(xué)物理_物理實(shí)驗(yàn) 霍爾效應(yīng)d2I物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

據(jù)悉,在使用霍爾器件時(shí)還存在不等位電動(dòng)勢(shì)造成的偏差,這是由于霍爾電極B、B’不可能絕對(duì)對(duì)稱焊在霍爾片一側(cè)形成的。因?yàn)槟壳吧a(chǎn)工藝水平較高,不等位電動(dòng)勢(shì)很小,故通常可以忽視,也可以用一個(gè)電位器加以平衡(圖2.3.1-1中電位器R1)。我們可以通過改變IS和磁場(chǎng)B的方向去除大多數(shù)付效應(yīng)。具體說在規(guī)定電壓和磁場(chǎng)正反方向后,分別檢測(cè)下述四組不同方向的IS和B組合的VBB’,即+B,+IVBB’=V1-B,+IVBB’=-V2-B,-IVBB’=V3+B,-IVBB’=-V4之后得到霍爾電流平均值,這樣即使不能清除所有的付效應(yīng),但其引入的偏差不大,可以忽視不計(jì)。濁度率檢測(cè)方式如右圖所示。設(shè)B’C寬度離為L(zhǎng),樣品橫截面積為S=bd,流經(jīng)樣品電壓為IS,在零磁場(chǎng)下,測(cè)得B’C間電流為VB’C,依照歐姆定理可以求出材料的濁度率。v?了解霍爾效應(yīng)原理以及有關(guān)霍爾元件對(duì)材料要求的知識(shí)。?學(xué)習(xí)用“對(duì)稱檢測(cè)法”消除付效應(yīng)影響。?按照霍爾電流判定霍爾器件自旋類型,估算自旋的含量和遷移速率,實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和儀器:QS-H霍爾效應(yīng)組合儀,小n極,測(cè)試儀。?霍爾效應(yīng)組合儀包括電磁鐵,霍爾樣品和樣品架,換向開關(guān)和接線柱,如右圖所示。d2I物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

?測(cè)試儀由電樞恒流源IM,樣品工作恒流源IS,數(shù)字電壓表,數(shù)字毫伏表等組成物理實(shí)驗(yàn) 霍爾效應(yīng),儀器面板如右圖:將測(cè)試儀上IM輸出,IS輸出和VH輸入三對(duì)接線柱分別與實(shí)驗(yàn)臺(tái)上對(duì)應(yīng)接線柱聯(lián)接。打開測(cè)試儀電源開關(guān),預(yù)熱數(shù)分鐘后開始實(shí)驗(yàn)。?保持IM不變,取IM=0.45A,IS取1.00,1.50……,4.50mA,測(cè)繪VH-IS曲線,估算RH。?保持IS不變,取IS=4.50mA,IM取0.100,0.150……,0.450mA,測(cè)繪VH-IM曲線。?在零磁場(chǎng)下,取IS=0.1mA,測(cè)VB’C(即V?)。·確定樣品導(dǎo)電類型,并求(n,u,?(。·注意事項(xiàng)?測(cè)試儀開機(jī)、關(guān)機(jī)前將IS,IM旋鈕逆秒針轉(zhuǎn)入底,避免輸出電壓過大。·IS,IM接線不可顛倒,以防燒毀樣品。·思考題?若磁場(chǎng)不正好與霍爾器件片底法線一致,對(duì)檢測(cè)結(jié)果有何影響,假如用實(shí)驗(yàn)方式判定B與器件發(fā)覺是否一致??能夠用霍爾器件片檢測(cè)交變磁場(chǎng)?......d2I物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

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